中国科学院光电研究所
受中国科学院光电研究所委托研制高温半导体材料电阻率测量系统,主要通过电学的方法测量薄膜的电阻率和均匀性。经过佰力博研发人员1年多潜心研发,佰力博研制的首台样机顺利通过验收并承担国家科研性项目的相关技术指标测试,得到中国科学院光电研究所全体项目组的一致认可。
第1代高温半导体材料电阻率测量系统
2014年正式交付,直到今天运行良好
半导体材料电阻率发展历程与用户案例分享
深圳裕同科技
采购Partulab RMS-1000S高温薄膜四探针测量系统,RT-600℃真空气氛,2018年正式交付。
第2代RMS-1000S系列客户案例分享
合肥学院王黎丽教授课题组
宁波工程学院孙仁兵教授课题组
采购Partulab佰力博HRMS-800高温薄膜四探针测量系统,RT-600℃真空气氛,2014年正式交付,一直运行正常。
桂林电子科大周昌荣教授课题组
采购Partulab佰力博HRMS-800高温薄膜四探针测量系统,RT-600℃真空气氛,2016年正式交付,一直运行正常。
西南科技大学刘敬松教授课题组
采购Partulab佰力博HRMS-800高温薄膜四探针测量系统,RT-600℃真空气氛,2015年正式交付,一直运行正常。
贵州理工学院仇伟教授课题组
采购Partulab佰力博HRMS-800高温薄膜四探针测量系统,RT-600℃真空气氛,2017年正式交付,一直运行正常。
第1代HRMS-800系列客户案例分享
青岛大学